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環(huán)形件繞電纜法磁粉缺陷檢測(cè)

日期:2025-05-01 07:36
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摘要:
環(huán)形件繞電纜法磁粉缺陷檢測(cè)
    在環(huán)形工件上,編繞通電電纜,也稱為螺線環(huán),如圖3-20所示。所產(chǎn)生的磁場沿著環(huán)
                                
的圓周方向,磁場大小可近似地用下式計(jì)算:
                              
    環(huán)形件繞電纜法是用軟電纜穿繞環(huán)形件,通電磁化,形成沿工件圓周方向的周向磁場,用于發(fā)現(xiàn)與磁化電流平行的橫向缺陷:
    環(huán)形件繞電纜法的主要優(yōu)點(diǎn)如下:
    (1)由于磁路是閉合的,無退磁場產(chǎn)生,容易磁化.
    (2)非電接觸,可避免**工件。環(huán)形件繞電纜法的缺點(diǎn)是:效率低.不適用于批量檢驗(yàn).環(huán)形件繞電纜法適用于尺寸大的環(huán)形件的磁粉檢測(cè)。

其他常用磁粉缺陷檢測(cè)方法:觸頭法磁粉探傷檢測(cè)、軸向通電法磁粉檢測(cè)